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EVERLIGHT ELECTRONICS CO.,LTD.
Technical Data Sheet
0.56" Quadruple Digit Displays
ELF-512SYGWA/S530-E2
█ Reliability test items and conditions:
The reliability of products shall be satisfied with items l
isted below.
Confidence level：97%
LTPD：3%
NO Item Test Conditions
Test
Hours/Cycle
Sample Size
Failure
Judgment
Criteria
Ac/Re
1 Solder Heat TEMP : 260℃ ± 5 ℃ 5 SEC 76 PCS 0/1
H : +85℃ 30min
2 Temperature Cycle ∫ 5 min 50 CYCLE 76 PCS 0/1
L : -55℃ 30min
H : +100℃ 5min
3 Thermal Shock ∫ 10 sec 50 CYCLE 76 PCS 0/1Iv≦Ivt*0.5
L : -10℃ 5min
4 High Temperature Storage TEMP : 100℃ 1000 HRS 76 PCS 0/1Vf≧Uor
5 Low Temperature Storage TEMP : -55℃ 1000 HRS 76 PCS 0/1
6 DC Operating Life IF
= 10 mA 1000 HRS 76 PCS 0/1
7
High Temperature / High
Humidity
85℃/85% RH 1000 HRS 76 PCS 0/1
Note： Ivt：The test Iv value of the chip before the reliablility
test
Iv：The test value of the chip that has completed the reliablility test
U：Upper Specification Limit
L： Lower Specification Limit
http : //www.everlight.com Rev. : 1 Page: 5 of 6
Device Number :　CDDF-512-036 Prepared date:2005/08/24 Prepared by: YanLi Zhong
or
Vf≦L
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